[23a-B203-1~11] 17.1 カーボンナノチューブ，他のナノカーボン材料

△ [23a-B203-6] その場 XAFS 測定による単層カーボンナノチューブ成長中の Co 触媒と Ir 触媒の化学状態の比較

〇柄澤 周作¹、サラマ カマル²、才田 隆広^1,2、成塚 重弥¹、丸山 隆浩^1,2 (1.名城大理工、2.名城大ナノマテ研)

キーワード：カーボンナノチューブ、XAFS、CVD

単層カーボンナノチューブ(SWCNT)の成長メカニズムを知ることは、構造制御のために重要で あり、特に SWCNT 生成時の触媒の状態を決定するにはその場測定が必須である。我々は、これ まで、その場 X 線吸収微細構造(XAFS)測定により、SWCNT 成長中の Co 触媒の化学状態につい て議論してきた。今回、白金族元素である Ir 触媒に対し、 SWCNT 成長中において、その場 XAFS 測定を行い、鉄族元素である Co 触媒との生成メカニズムの違いにつ いて考察した。