The 69th JSAP Spring Meeting 2022

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.4 III-V-group nitride crystals

[22p-E202-1~16] 15.4 III-V-group nitride crystals

Tue. Mar 22, 2022 1:30 PM - 6:15 PM E202 (E202)

Atsushi Kobayashi(Univ. of Tokyo), Kanako Shojiki(Mie Univ.), Kenjiro Uesugi(Mie Univ.)

2:30 PM - 2:45 PM

[22p-E202-4] Effect of gas species on ICP etching during fabrication of AlGaN/GaN-based HFET-type photosensors

〇(B)Tatsunari Saito1, Yuya Yamada1, Motoaki Iwaya1, Tetsuya Takeuchi1, Satoshi Kamiyama1 (1.Meijo Univ.)

Keywords:photosensor, HFET

HFET型光センサは高い波長選択性・高受光感度・高リジェクション比・高速応答特性などに期待できる。一方で、デバイスプロセス条件には不明な点が多い。本研究ではICPエッチング時のガス種の依存性を調査した。ICPエッチングではp-GaNとAlGaNを選択的にエッチング可能なBCl3・SF6混合ガスおよびCl2・O2・Ar混合ガスを用いてデバイスを作製及びデバイス特性の依存性を調査した。