The 69th JSAP Spring Meeting 2022

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Oral presentation

16 Amorphous and Microcrystalline Materials » 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

[22p-F408-1~14] 16.1 Fundamental properties, evaluation, process and devices in disordered materials

Tue. Mar 22, 2022 1:00 PM - 4:45 PM F408 (F408)

Koichi Kajihara(Tokyo Metropolitan Univ.), Kenji Shinozaki(AIST)

2:15 PM - 2:30 PM

[22p-F408-6] Fermi edge singularity and related exciton generation in degenerate ZnO:Ga thin film

〇Aika Tashiro1, Yutaka Adachi2, Takashi Uchino1 (1.Kobe Univ., 2.NIMS)

Keywords:degenerate semiconductor, exciton, stimulated emission

Mot密度以上のキャリア濃度を有する半導体では,フェルミエッジ付近の異常吸収とそれに伴うMahan励起子生成の存在が提唱されている。本研究ではMot密度以上のZnO薄膜の光学特性を調べるためZnO:Ga薄膜の光吸収スペクトルを測定した。その結果,150 K以下の温度で3.38 eVに励起子の生成を示唆する異常吸収が現れた。さらに発光スペクトル測定より,ZnO:Ga薄膜では低励起フルエンス領域でMahan励起子に由来すると考えられる誘導放出が観測された。