[24p-E202-1~8] 7.1 X-ray technologies

[24p-E202-4] Development of Measurement Technique for Magnetization Distribution at Buried Interface in Spintronics Materials Using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

〇Akira Yasui¹, Eiji Ikenaga² (1.JASRI, 2.Nagoya Univ. IMaSS)

Keywords:Photoelectron spectroscopy, Spintronics material

スピントロニクス材料中の磁化の深さ分布を解析するために、我々は硬X線光電子分光（HAXPES）を用いた計測技術開発を行っている。今回、我々は非磁性試料に対して、試料表面内方向に200 mTの磁場印加した状態でのHAXPES計測に成功した。