[24p-E202-1~8] 7.1 X線技術

[24p-E202-4] スピントロニクス材料の埋もれた界面における磁化分布計測を指向した硬X線光電子分光技術開発

〇保井 晃¹、池永 英司² (1.JASRI、2.名大 IMaSS)

キーワード：光電子分光、スピントロニクス材料

スピントロニクス材料中の磁化の深さ分布を解析するために、我々は硬X線光電子分光（HAXPES）を用いた計測技術開発を行っている。今回、我々は非磁性試料に対して、試料表面内方向に200 mTの磁場印加した状態でのHAXPES計測に成功した。