[24p-E202-1~8] 7.1 X線技術

[24p-E202-6] X線Talbot干渉計による高分子材料の引張試験観察

〇上田 亮介¹、角田 幸翼¹、百生 敦¹ (1.東北大)

キーワード：X線位相イメージング、引張試験、高分子材料

X 線位相イメージングは、高分子材料や生体軟組織といった試料を高感度に観察できる。引張試験は材料の変形・破壊現象の理解に役立ち、X線位相イメージング法を適用することで新たな知見が得られると期待できる。本研究では、高分子材料の引張試験においてX線Talbot干渉計による観察を行う。発表では高分子材料の応力ひずみ曲線と、引張力による試料破断までの吸収・屈折・散乱画像の推移について報告する。