[24p-E203-1~16] 23.1 Joint Session N "Informatics"

[24p-E203-5] Feature extraction of synchrotron radiation XRD patterns with spatial constraints

〇Kentaro Kutsukake¹, Kota Matsui², Takashi Segi³, Ichiro Takeuchi⁴, Takuo Sasaki⁵, Seiji Fujikawa⁵, Masamitu Takahasi⁵ (1.RIKEN, 2.Nagoya Univ., 3.KOBELCO Res. Inst., 4.NITech, 5.QST)

Keywords:machine learning, informatics, XRD

近年、実験・計測機器の性能向上に伴い、計測データの質・量は飛躍的に増加しており、得られた大量データから測定対象に関する情報を効率よく抽出することが求められている。我々は、X線回折パターンの試料表面でのマッピングを対象とし、機械学習によって多数の複雑なパターンから特徴パターンを抽出し、解析に応用することを検討している。今回は、空間分布の滑らかさを制約とした特徴抽出を検討したので報告する。