[25a-E304-1~9] 12.2 Characterization and Materials Physics

△ [25a-E304-6] Crystallization Behavior in Layered Crystalline Organic Semiconductors as Decoded by Nanomechanical Properties

〇Ryo Miyata¹, Satoru Inoue¹, Ken Nakajima^1,2, Tatsuo Hasegawa¹ (1.U. Tokyo, 2.TIT)

Keywords:organic semiconductor, atomic force microscopy

層状結晶性有機半導体の多結晶薄膜は、各種溶液法とアニール処理により作製され、その過程で分子は優れた２次元半導体輸送特性を示す構造へと秩序化していく。本研究では、原子間力顕微鏡（AFM）による力学的物性の評価が、分子が秩序化する過程の評価に有効であることを明らかにし、その一端を捉えた。講演では、層状結晶性有機半導体の秩序化のプロセスを分子の配向秩序と力学物性の相関の観点からを議論する。