[25p-E304-1~15] 12.2 評価・基礎物性

[25p-E304-10] サイクリック・ボルタンメトリーと低エネルギー逆光電子分光により測定した低分子有機半導体の電子親和力の関係

〇久保 美潤¹、吉田 弘幸^2,3 (1.千葉大院融合、2.千葉大院工、3.千葉大MCRC)

キーワード：低エネルギー逆光電子分光、逆光電子分光、サイクリック・ボルタンメトリー

サイクリック・ボルタンメトリーによる還元電位π_redから固体の電子親和力Aを見積もる方法は、簡便であるため広く用いられている。このことからπ_redとAの関係式が提案されてきた。しかし、先行研究では関係式の導出に、精度の低い従来の逆光電子分光によるAを使用していた。本研究では、高分解能で電子線による試料損傷のない低エネルギー逆光電子分光(LEIPS)により0.1 eVの精度で測定したAを用いて、より正確な関係式を提案する。