[26a-E105-1~11] 6.6 Probe Microscopy

[26a-E105-10] Development of a scanning NV center probe using electronic grade diamond and FIB fabrication

〇Aoi Ideguchi¹, Yuta Kainuma¹, Kuinitaka Hayashi¹, Toshu An¹ (1.JAIST)

Keywords:scanning NV center probe, NV center

今後、スピントロニクス分野において、スピン流検出には優れたスピン検出・イメージング機構が必要となる。そのため室温でナノスケールのスピンセンサとして動作するダイヤモンド中の窒素空孔中心（NV中心）を水晶振動子型AFMと複合した装置の開発を行った。高純度なエレクトロニックグレードダイヤモンドをレーザーによりピラー形状に加工し、FIB加工によりさらなる先鋭化を行った。作成したNV中心プローブの評価について報告する。