10:45 〜 11:00 [16a-D405-5] 界面状態密度を測定できる高周波と低周波の交流バイアス電圧を用いるケルビンプローブ力分光法 和泉 遼1、宮崎 雅人1、李 艶君1、〇菅原 康弘1 (1.阪大院工)