[15p-B508-1~18] 12.2 Characterization and Materials Physics

△ [15p-B508-10] Detection of the SERS Blinking Induced by the Structural Change of the Single-Molecule Junction

〇(M1)Kanji Homma¹, Satoshi Kaneko¹, Kazuhito Tsukagoshi², Tomoaki Nishino¹ (1.Tokyo Tech, 2.NIMS MANA)

Keywords:single-molecular junction, Surface-enhanced Raman Scattering

表面増強ラマン散乱(SERS)計測時に観測されるblinkingは、通常のラマン散乱とは異なるラマン散乱強度の増強が起こるため、その原因の解明は学術的に意義深い。本研究では2,6-Naphthalenedithiol(NDT)の単分子接合を作製し、電流-電圧特性とSERSスペクトルの同時計測を行うことで、単一分子の接続状態がSERS強度変化に与える影響について検討した。その結果、NDT単分子接合におけるblinking現象中における強度変化は結合状態の変化が起因していることを見出した。