[15p-PB03-1~15] 8 Plasma Electronics (Poster)

[15p-PB03-12] TOF-SIMS analysis of iron-fullerene complexes synthesized in ECR plasma

〇CHENHAN ZHANG¹, Tomoki Kizuka¹, Rinya Kitaura², Ayuho Matsumoto², Kenji Motohashi^1,2,3 (1.Toyo Grad., 2.Toyo Univ., 3.BNERC)

Keywords:ECRIS, Fullerene, Iron fullerene complex ion

電子サイクロトロン共鳴イオン源（ECRIS）内で、フラーレン複合イオンを生成し、Si単結晶基板に照射した後、飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)により元素分析した結果鉄正イオンのピークを観測した。さらに、12u刻みの周期構造を持つクラスター負イオンが多数観測された。このことから、低次フラーレンと鉄の複合イオンと考えられる。