2023年第70回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[16a-A408-1~10] 6.2 カーボン系薄膜

2023年3月16日(木) 09:00 〜 11:30 A408 (6号館)

大曲 新矢(産総研)、稲葉 優文(九大)

10:45 〜 11:00

[16a-A408-8] C-Si-Oチャネルを用いたダイヤモンドMOSFETの
極低温環境下における動作実証

〇(B)竹内 雅治1、若林 千幸1、太田 康介1、成田 憲人1、高橋 康裕1、蔭浦 泰資1、高野 義彦2、立木 実2、大井 修一2、有沢 俊一2、川原田 洋1,3 (1.早大理工、2.物質・材料研究機構、3.早大材研)

キーワード:超伝導、FET、ダイヤモンド

ダイヤモンドは、(111)面においてボロン濃度1×1022 cm-3で超伝導転移温度Tc がヘリウム温度を上回る最大10 Kを示す超伝導材料であり、超伝導FETの応用に適していると考えられる。超伝導FETは、超伝導電極と半導体チャネルで構成され、臨界電流の制御が可能である。そこで、Si終端ダイヤモンド(C-Si-O)をチャネルに、(111)超伝導ボロンドープダイヤモンドをソース・ドレイン電極に用いたMOSFETを作製し、極低温環境下での動作を検証した。