[16a-E502-1~10] CS.3 Code-sharing Session of 3.10 & 3.11 & M

[16a-E502-4] Passive near-field detection model near the phonon-resonance wavelength

〇Ryoko Sakuma¹, Kuan-Ting Lin², Yusuke Kajihara^2,3 (1.Univ. Tokyo Sch. Eng., 2.Univ. Tokyo Inst. Ind. Sci., 3.JST PRESTO)

Keywords:Near-field scanning optical microscopy, Spectroscopy, Thermally excited evanescent waves

物質表面上では電子振動や格子振動等のミクロなダイナミクスが起因し，熱励起エバネッセント波(波長8 – 20 μm)が発生している．近年，外部光源を用いないパッシブTHz近接場顕微鏡(s-SNOM)が開発され，熱励起エバネッセント波の高空間分解能計測を可能にした．本研究では，分光機構を付加したパッシブ分光s-SNOMを用いてGaNおよびAlN上の近接場計測を実施し，計測結果を用いてフォノン共鳴波長近傍におけるパッシブ散乱モデルを提案する．