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[16p-A404-4] インバースモード蛍光X線ホログラフィーを用いたMnドープBiFeO3薄膜の電場下における構造解析
キーワード:強誘電体、蛍光X線ホログラフィ―
近年注目されている強誘電体の半導体利用において、ドーパントの振舞いは極めて重要な因子である。しかしながら、強誘電体の電気伝導は複雑で未解明な点が多い、特に電場印加下の構造は測定が困難であるためほとんど明らかにされてこなかった。本研究ではMnドープBiFeO3薄膜の電場印加下における原子構造を蛍光X線ホログラフィーにより観察することを試みた。