[17a-A403-1~10] 13.5 デバイス／配線／集積化技術

[17a-A403-10] バンド間トンネリングのソフトエラー信頼性予測への応用可能性

〇(M2)加藤 由高^1,2、小林 大輔²、廣瀬 和之^1,2 (1.東大院工、2.宇宙研)

キーワード：ソフトエラー、シングルイベントアップセット、シリコンデバイス

SRAMの放射線ソフトエラー信頼性を，放射線を使わずに予測できるかもしれない．放射線に対してトランジスタがどれだけ応答するかを示すバイポーラゲインを，トランジスタ単体のIV特性から算出できればである．本研究では，バンド間トンネリングと放射線の電子・正孔対生成における類似性に着目し，この可能性を議論する．