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[17a-B414-5] レーザー誘起ドーピング技術を用いた高性能TFETの作製
キーワード:遷移金属ダイカコゲナイド、トンネル電界効果トランジスタ、レーザー照射
MoTe2 に対して、レーザー照射ドーピング技術を使って部分的に結晶をドープするによって、TFETを成功に作製した。前回応用物理学会で報告した試料では最小のSS値が1 V/decであったが、今回300 nm SiO2の代わりに30 nm程度のh-BNをゲート絶縁膜として用いることで、TFET特性の向上に成功した。