[17p-A502-1~16] 3.7 光計測技術・機器（旧3.8）

△ [17p-A502-6] 励起のデッドタイム削減のためのサブギガヘルツ
疑似ランダム変調励起光を用いた蛍光寿命測定

〇宇井 颯太¹、瀬戸 啓介¹、小林 孝嘉²、徳永 英司¹ (1.東理大理、2.電通大)

キーワード：蛍光寿命イメージング、蛍光顕微鏡

従来の蛍光寿命測定ではパルス励起した蛍光を積算した緩和曲線から寿命を測定する。この積算には蛍光の消光を待つ励起の空白時間がある。我々は、励起光を疑似乱数パルスで変調し、蛍光信号と変調波形の相関で緩和曲線を得る方法を開発してきた。この方法で空白時間が削減され蛍光光子数を増やせる。本講演ではサブギガヘルツ領域での変調で、数ナノ秒以上の実用的な蛍光寿命測定と信号対雑音比の向上が可能であることを実証した