[18p-A401-1~13] 23.1 Joint Session N "Informatics"

[18p-A401-8] Population estimation of characteristic variation in power transistors

〇Haruka Fukumoto¹, Yohei Nakamura¹, Masahiro Yasuda¹, Yoshinori Miyamae¹, Yoshiaki Oku¹, Ken Nakahara¹ (1.ROHM Co., Ltd.)

Keywords:machine learning, Bayesian inference, variance estimation

SiC-MOSFETなどのパワートランジスタにおいても，量産時の特性揺らぎ推定を正規分布に頼っている．しかし開発段階では少数のデータしか得られず，また正規分布に従うとは限らない．本発表では，少数データでもベイズの定理をもとにデータを得るたびに更新することにより効率的で精度が高く，正規分布ではない分布も扱える手法の1つであるガンマ回帰を用いた母集団推定の結果を報告する．