スケジュール 4 いいね! 1 コメント (0) 15:00 〜 15:10 [IV-106] 高精度写真計測のターゲット認識における深層学習の適用 *阪野 将昭1、渡辺 勇樹2、森 直樹1、原 智子3 (1. MHIパワーエンジニアリング、2. 三菱重工業、3. デジタルみらい) キーワード:写真計測、高精度、機械学習、自動ノイズカット 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン