スケジュール 3 14:00 〜 14:20 [2-34] 招待講演：イットリア安定化正方晶ジルコニアのフラッシュ焼結；4端子法による電気抵抗率の計測 *吉田 道之1,2、Simone Falco2、Richard I. Todd2 (1. 岐阜大学、2. オックスフォード大学) キーワード：フラッシュ焼結、ジルコニア、電気抵抗率 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
