磁性材料・磁気デバイスにおける微細構造制御と機能発現

[3-13A] DPC STEM法を用いた磁場印加下の磁壁観察に基づくフェライト磁石の局所磁気特性評価

*村上 善樹¹、関 岳人^1,2、穴井 克樹³、小林 義徳³、川田 常宏³、幾原 雄一^1,4、柴田 直哉^1,4 (1. 東京大学、2. JST さきがけ、3. （株）プロテリアル、4. ファインセラミックスセンター) (※この発表者は優秀講演発表賞の対象者です。)

キーワード：走査透過型電子顕微鏡(STEM)、微分位相コントラスト(DPC)STEM、M型フェライト磁石