09:00 〜 09:20
[2-24] 招待講演：放射線X線CTによる電子デバイスの信頼性解析
:積層セラミックコンデンサ(MLCC)の電極構造形成プロセス
キーワード：焼結、微構造、X線CT、積層セラミックコンデンサ
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