講演情報

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XFEL/X(分光・蛍光)/X(XAFS)/産業利用/その他

[11D1] X(XAFS)

2025年1月11日(土) 09:00 〜 10:15 D会場 (中会議室202)

座長:木村正雄

09:30 〜 09:45

[11D1-03] XAFS測定のLCF解析のベイズ計測

*林駿佑¹、片上舜²、岡島敏浩³、岡田真人² (1. 東京大学大学院理学系研究科物理学専攻、2. 東京大学大学院新領域創成科学研究科、3. あいちSR)

キーワード：ベイズ計測、XAFS、LCF解析

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