講演情報

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[5] VSX（表面）

[11P] VSX（表面）

2025年1月11日(土) 13:00 〜 15:00 [5] VSX（表面） (企業展示・ポスター会場)

[11P-34] 光電子ホログラフィーによる４H-SiC中の窒素ドーパントの局所原子配列測定

*山本裕太¹、橋本由介¹、松下智裕¹、Peter Wellmann²、林好一³ (1. 奈良先端科学技術大学院大学、2. エアランゲン＝ニュルンベルグ大学、3. 名古屋工業大学)

キーワード：光電子ホログラフィー、SiC、局所原子配列測定

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