大気圧硬X線光電子分光による半導体の光反応の分析

[11P-70] 大気圧硬X線光電子分光による半導体の光反応の分析

*高木康多¹、安野聡¹、Seo Okkyun¹、西原達平¹ (1. 高輝度光科学研究センター)

キーワード：硬X線光電子分光、光反応、オペランド測定

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