含フッ素高分子材料のX線ダメージ評価および分光測定

[12P-82] 含フッ素高分子材料のX線ダメージ評価および分光測定

*倉橋直也¹、菅大暉² (1. 自然科学研究機構　分子科学研究所、2. 高輝度光科学研究センター)

キーワード：含フッ素高分子材料、高分子電解質、X線ダメージ、硫黄、XAFS

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