Mate2021

講演情報

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一般講演セッション

[1] 接合信頼性

座長：山田 由香(豊田中央研究所)　　

[1-1] 繰返し通電試験における接合部の寿命を簡易に予測する手法

一般講演

○河村祐貴, 上垣慎 (三菱電機（株）)

キーワード：通電試験、寿命、接合、疲労