鉱物処理

[1308-17-06] 再磨鉱と浮遊選鉱による高SiO₂含有亜鉛精鉱からのSiO₂の分離除去

○小野 竜大¹、芳賀 一寿¹、高崎 康志¹、川村 茂¹、柴山 敦¹ (1. 秋田大学)

司会：三木 一（九州大学）

キーワード：SiO2、単体分離、選択粉砕、再磨鉱、浮遊選鉱

本研究では選鉱学的手法を用いて高SiO₂含有亜鉛精鉱からSiO₂の分離除去を目指している。本実験で用いた試料は、SiO₂の単体分離が不十分であるため、浮遊選鉱等の物理選別手法を用いて有用成分Znと不用成分SiO₂の分離が困難である。実験試料のSEM画像を画像解析ソフトで解析したところ、SiO₂粒子の表面はZnSに覆われている傾向にあることが確認された。そこで表面粉砕による再磨鉱に着目し、媒体撹拌ミルで表面粉砕後の粒径別の元素分布やSiO₂粒子の単体分離度、浮遊選鉱法による選別成績を調査した。また実験では比較として振動ミルで体積粉砕を行った試料に対しても同様の調査を行った。
その結果、表面粉砕を行うとZnは細粒側、SiO₂は粗粒側に濃縮し、体積粉砕と同程度の粉砕比であっても高い単体分離度を示した。浮遊選鉱についても表面粉砕をした条件で分離性が良好な結果が得られた。
以上の結果より、浮遊選鉱前の再磨鉱として表面粉砕が効果的であることが確認された。