15:45 〜 16:00
[3K0111-25-11] 粒子振動層を用いたMgとAlの乾式比重分離における粒子層かさ密度が選別に及ぼす影響
司会:芳賀 一寿(秋田大学)、三木 一(九州大学)、 ドドビバ ジョルジュ(東京大学)、大島 達也(宮崎大学)
キーワード:リサイクル、マグネシウム、乾式比重分離
軽量かつ高比強度なMg合金の需要増加に伴い、Mgリサイクルの必要性が高まっているが、効率的なMgとAlの分離方法は開発されていない。本研究室では粒子振動層を用いた乾式比重選別法によってMgとAlの分離を試み、振動条件を調整することにより、選別が可能なことを明らかにしている。しかし、水平振動を付加した場合、層底部の粒子は十分に運動せず、Al試料が層内部の十分な深さまで沈降しない傾向がある。
本研究では、かさ密度を1.8 ~2.6 gcm-3;の範囲で変化させた粒子層に水平振動を付加し、MgとAl試料の沈降深さに及ぼす影響を調べた。粒子層のかさ密度を2.0 ~2.2 gcm-3程度に調整した粒子層を用いた場合、Mg試料は層上部に浮上したままであり、Al試料は粒子層の半分程度まで沈降した。粒子層のかさ密度を2.2 gcm-3より高くとすると、Mg試料は層上部に浮上したままであったが、Al試料は深くまで沈降しなかった。また、かさ密度をMgの真密度に近づけると、Al試料は深くまで沈降したが、一部のMg試料は層内部へ沈降した。粒子層のかさ密度を制御することで、Mg試料とAl試料を分離するのに十分な深さまでAl試料を沈降させることが示唆された。
本研究では、かさ密度を1.8 ~2.6 gcm-3;の範囲で変化させた粒子層に水平振動を付加し、MgとAl試料の沈降深さに及ぼす影響を調べた。粒子層のかさ密度を2.0 ~2.2 gcm-3程度に調整した粒子層を用いた場合、Mg試料は層上部に浮上したままであり、Al試料は粒子層の半分程度まで沈降した。粒子層のかさ密度を2.2 gcm-3より高くとすると、Mg試料は層上部に浮上したままであったが、Al試料は深くまで沈降しなかった。また、かさ密度をMgの真密度に近づけると、Al試料は深くまで沈降したが、一部のMg試料は層内部へ沈降した。粒子層のかさ密度を制御することで、Mg試料とAl試料を分離するのに十分な深さまでAl試料を沈降させることが示唆された。
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