[P-13] Effect of Si Separator in Forksheet FETs on Device Characteristics Investigated by Using In-House TCAD Process Emulator and Device Simulator
抄録パスワード認証
抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。
Poster
2023年9月28日(木) 15:00 〜 16:30 Meeting Room1
Chair: Shunsuke Koba (Kobe City Col. Tech.), Hideki Minari (Sony Semiconductor Solutions)
抄録パスワード認証
抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。