The 22nd Symposium on Sensing via Image Information

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オーガナイズドセッション

[OS3] オーガナイズドセッション
パターン認識の新展開 -機械の自律化による産業革命に向けて-

Fri. Jun 10, 2016 10:45 AM - 12:15 PM MAIN HALL (ANNEX HALL 2F)

井尻 善久氏(オムロン)

11:20 AM - 11:45 AM

[OS3] IoTを品質面で支える基板検査装置の進化

小西 嘉典1 (1.OMRON)

様々な電子機器や自動車には多くの電子回路が搭載されており、回路基板の品質保証のために生産ラインにおいて画像処理による基板の自動検査が行われてきました。しかし最近では、スマートホンに代表される電子機器の小型化・高機能化に伴って基板部品の小型化や基板実装の高密度化が進み、通常のカメラでは見えない・見えにくい部品が増えています。このような基板の検査のために導入が進みつつあるX線基板検査装置について、検査の仕組みや高速化の工夫などを紹介します。(OSサイト)

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