[E-9-1] Overview and Future Challenges of Hafnium Oxide ReRAM

Y. S. Chen^1,2, H. Y. Lee^1,2, P. S. Chen³, P. Y. Gu¹, Y. Y. Hsu¹, W. H. Liu¹, C. H. Tsai¹, S. M. Wang¹, S. S. Sheu¹, P. C. Chiang¹, W. P. Lin¹, W. S. Chen¹, F. T. Chen¹, C. H. Lien², M. J. Tsai¹ (1.ITRI, 2.National Tsing Hua Univ., 3.Mingshin Univ. of Sci. and Tech. , Taiwan)

https://doi.org/10.7567/SSDM.2010.E-9-1