2016 International Conference on Solid State Devices and Materials
2016年9月26日 〜 2016年9月29日 Tsukuba International Congress Center, Tsukuba, Japan
11:15 〜 11:45
[A-6-01(Invited)] Bias Temperature Instability in Tunnel FETs
○W. Mizubayashi1, T. Mori1, K. Fukuda1, Y. Ishikawa1, Y. Morita1, S. Migita1, H. Ota1, Y. X. Liu1, S. O'uchi1, J. Tsukada1, H. Yamauchi1, T. Matsukawa1, M. Masahara1, K. Endo1 (1.AIST(Japan))
