[2H10-15] 計測技術

[2H15] 微小試験片を用いた陽電子消滅寿命評価手法の開発

*安藤 太一¹、山脇 正人²、平出 哲也³、秋吉 優史¹ (1. 大阪府立大学大学院、2. 産業技術総合研究所、3. 日本原子力研究開発機構)

キーワード：陽電子、陽電子寿命測定

陽電子寿命計測法(PALS)は金属,半導体などのナノメートルサイズの空孔欠陥を評価する上で有用な手段である．特に原子炉産業においては放射線による損傷挙動の解明は材料の開発を進めていく上で重要な課題であり,PALS が注目されている．しかしながら,PALS は試料の形状,数の制約により測定方法が制約されてきた．照射場が非常に限られており,放射化の影響がある現環境ではこの制約は非常に大きな問題で,PALS 適用の大きな妨げになっている．よって,微小な試験片 1 枚で計測を行うことができれば,PALS 適用の敷居が低くなり,今後 PALS は様々な場面で活用できるようになると考えられる．そこで本研究では,任意の形状の試験片 1 枚での陽電子寿命計測を可能とすることを目的とする．