[2F01-04] 核データ測定2

[2F04] 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画

(2)荷電粒子計測システムの開発

*福田 宏哉¹、川瀬 頌一郎¹、渡辺 幸信¹、大石 将也¹、川田 哲平¹、郷 慎太郎¹、西畑 洸希¹、新倉 潤²、鈴木 大介³、真鍋 征也⁴ (1. 九大、2. 東大、3. 理研、4. 産総研)

キーワード：ミュオン原子核捕獲反応、ソフトエラー

負ミュオン原子核捕獲反応によって放出される荷電粒子エネルギースペクトルの取得に向け、荷電粒子計測システムの開発を行っている。本計測システムでは荷電粒子の粒子識別手法として、低エネルギー荷電粒子にはnTD-Si検出器を用いた波形解析法、高エネルギー荷電粒子にはSi検出器とCsIシンチレータを用いたΔE-E法を使用する。本講演では九州大学加速器・ビーム応用科学センターにおける各検出器テストの結果について発表を行う。