日本金属学会 2020年春期(第166回)講演大会

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General Session

9.Electric/Electronic/Optical Materials » Electric/Electronic/Optical Materials

[G] Light- / Electromagnetic Wave-related Materials

Wed. Mar 18, 2020 10:30 AM - 11:30 AM Rm. J (W621,2nd Flr., West Lecture Bldg.2)

Chair:Fumitaro Ishikawa(Ehime University)

10:30 AM - 11:00 AM

[231] [功績賞受賞講演] 2D Layered Semiconductor and Terahertz Non-Destructive Inspection

*TANABE Tadao1 (1. Tohoku Univ. Eng.)

Keywords:2次元層状結晶、テラヘルツ、非破壊検査、液相成長、廃棄プラスチック

テラヘルツ光を発生する材料を結晶成長法から検討し、キャリア密度を低減した2次元層状半導体によるテラヘルツ光の高効率発生を実現するとともに、テラヘルツ単色光源の小型装置と非破壊検査技術を開発した。

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