日本金属学会2024年秋期(第175回)講演大会

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[G] 分析・解析・評価

2024年9月20日(金) 13:00 〜 15:45 E会場 (全学教育推進機構講義B棟1階B108)

座長:波多 聰(九州大学)、佐藤 和久(大阪大学)

15:15 〜 15:30

[173] BaFe2As2多結晶体に形成される結晶欠陥の電子顕微鏡観察

*波多 聰1,2、郭 子萌1、村岡 幸樹3、高 紅叶2、嶋田 雄介1、原田 崇彰3、德田 進之介4、長谷川 友大4、山本 明保5 (1. 九大総理工、2. 九大URC、3. 九大総理工(院生)、4. 東京農工大工(院生)、5. 東京農工大工)

キーワード:電子顕微鏡、超伝導体、結晶欠陥、ボールミル、焼結

鉄系超伝導体BaFe2As2の面状欠陥の電子顕微鏡微細構造と臨界電流特性の関係を報告する。面状欠陥は(001)に平行であり、ボールミル処理とプラズマ焼結の条件に依存して高密度に生成すると臨界電流特性が向上する。

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