10:20 〜 11:45
[P2012] 市販GC-MS装置のための分子イオン計測用アタッチメントの新展開：GC-IA(TOF)イオン源
キーワード：イオン付着イオン化法、フラグメントレスイオン化法、網羅的検出法、質量分析
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(ポスター講演)
03：一般講演（ポスター発表）
2025年6月1日(日) 10:20 〜 11:45 P会場（一般ポスター） (学生会館)
10:20 〜 11:45
キーワード：イオン付着イオン化法、フラグメントレスイオン化法、網羅的検出法、質量分析
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