[19p-D9-1~18] 13.1 基礎物性・表面界面現象・シミュレーション

△ [19p-D9-4] チップ増強ラマン分光法による歪Si評価

^○小瀬村大亮¹，富田基裕¹，シティノルヒダヤーチェモハマドユソフ¹，後藤千絵²，川口哲成²，三澤真弓²，小椋厚志¹ (明治大理工¹，ブルカーAXS²)

キーワード：チップ増強ラマン,歪Si