[20a-D8-1~11] 14.3 電子デバイス・プロセス技術

[20a-D8-1] NO₂曝露・水素終端ダイヤモンド／Al₂O₃ヘテロ界面のバンド不連続の放射光XPS/UPS/XANES測定

^○嘉数誠¹，高橋和敏²，今村真幸²，平間一行³ (佐賀大院工¹，佐賀大シンクロトロン光応用研セ²，NTT物性基礎研³)

キーワード：ダイヤモンド,ヘテロ接合