2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(ポスター講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[21p-P17-1~26] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2016年3月21日(月) 16:00 〜 18:00 P17 (屋内運動場)

16:00 〜 18:00

[21p-P17-21] マイクロ圧縮試験による金/チタン積層構造の機械的特性評価

石塚 陽大1,2、柳田 佐理1,2、Chang Tso-Fu Mark1,2、Chen Chun-Yi1,2、小西 敏文3、町田 克之1,2,3、年吉 洋1,4、山根 大輔1,2、益 一哉1,2、曽根 正人1,2 (1.東工大、2.JST-CREST、3.NTT AT、4.東大)

キーワード:MEMS、電解めっき、金