09:30 〜 11:30 [7a-PB3-8] PHITSと多重有感領域を用いたFinFETデバイスのソフトエラー解析 〇安部 晋一郎1、佐藤 達彦1、加藤 貴志2、松山 英也2 (1.原子力機構、2.ソシオネクスト)