13:45 〜 14:00
〇Shinichi Ogawa1 (1.AIST)
シンポジウム(口頭講演)
シンポジウム » GFIS(電界電離ガスイオン源)・先端イオン源顕微鏡技術とその材料・デバイス研究開発への応用
2017年9月7日(木) 13:45 〜 18:00 C13 (事務室2-2)
米谷 玲皇(東大)、水田 博(北陸先端大)、小川 真一(産総研)
△:奨励賞エントリー
▲:英語発表
▼:奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄:どちらもなし
13:45 〜 14:00
〇Shinichi Ogawa1 (1.AIST)
14:00 〜 14:15
〇(PC)Marek Edward Schmidt1、Shinichi Ogawa2、Hiroshi Mizuta1 (1.JAIST、2.AIST)
14:15 〜 14:45
〇William Bond Thompson1 (1.Heelionics LLC)
14:45 〜 15:15
〇Hiroshi Mizuta1、Marek Schmidt1、Mayeesha Haque1、Shinichi Ogawa2、Manoharan Muruganathan1 (1.JAIST、2.AIST)
15:15 〜 15:45
〇Kentaro Kawai1、Takumi Hayashi1、Kenta Arima1、Osamu Tabata2 (1.Osaka University、2.Kyoto Univesity)
16:00 〜 16:30
〇Gregor Hlawacek1 (1.HZDR)
16:30 〜 17:00
〇Shinichi Matsubara1、Hiroyasu Shichi1、Tomihiro Hashizume1 (1.Hitachi, Ltd., Research & Development Group)
17:00 〜 17:30
〇Reo Kometani1 (1.Univ. of Tokyo)
17:30 〜 18:00
〇Takahiro Namazu1 (1.Aichi Institute of Technology)
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