光熱偏向分光法によるGa<sub>1-x</sub>In<sub>x</sub>N薄膜の評価

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15 結晶工学 » 15.7 結晶評価，不純物・結晶欠陥

[6p-A503-1~12] 15.7 結晶評価，不純物・結晶欠陥

2017年9月6日(水) 13:45 〜 17:00 A503 (503)

大野裕(東北大)、仮屋崎弘昭(ｸﾞﾛｰﾊﾞﾙｳｪｰﾊｽﾞ･ｼﾞｬﾊﾟﾝ)、中川聰子(ｸﾞﾛｰﾊﾞﾙｳｪｰﾊｽﾞ･ｼﾞｬﾊﾟﾝ)

14:45 〜 15:00

〇福田清貴^1,2、尾沼猛儀²、Sang Liwen¹、山口智広²、本田徹²、角谷正友¹ (1.物質材料研究機構、2.工学院大学)

キーワード：光熱偏向分光法、窒化ガリウムインジウム、窒化ガリウム

Ga_1-xIn_xN用に光熱偏向分光法を用いた装置の開発と光熱偏向分光法を用いてGa_1-xIn_xNの測定を行い、構造揺らぎに関する指標の検討について