PDF ダウンロード スケジュール 11 いいね! 1 コメント (0) 15:30 〜 15:45 [8p-C18-7] TaOx ReRAMの書き換え耐久性におけるエラー回復現象を用いた高信頼手法の提案 〇(M1C)福山 将平1、前田 一輝1、竹内 健1 (1.中大理工) キーワード:抵抗変化型メモリ、半導体