10:45 〜 11:00 △ [20a-B31-7] 高移動度酸化物薄膜トランジスタにおける信頼性劣化現象 〇高橋 崇典1、藤井 茉美1、宮永 美紀2、Bermundo Juan Paolo1、石河 泰明1、浦岡 行治1 (1.奈良先端大、2.住友電気工業株式会社)