[18a-E303-1~12] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[18a-E303-9] パルス光伝導法による非破壊界面準位密度測定の精度向上

〇山下 拓真¹、阿部 成海¹、熊谷 祐希¹、尾花 宏樹¹、小笠原 稜²、濱田 樹²、吉井 稜²、久保田 弘¹、橋新 剛¹、吉岡 昌雄² (1.熊大院自、2.熊本大学)

キーワード：パルス光伝導法