2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム(technical) » 薄膜表面・界面評価法の新展開

[19p-B31-1~8] 薄膜表面・界面評価法の新展開

2019年9月19日(木) 13:15 〜 17:15 B31 (B31)

川原村 敏幸(高知工科大)、西川 博昭(近畿大)

16:30 〜 17:00

[19p-B31-7] HR-RBS分析の現状と活用事例

小北 哲也1 (1.コベルコ科研)

キーワード:イオンビーム分析、RBS、表面分析

我々が HR-RBS 分析サービスを開始してからおよそ20 年が経過し、その間、半導体分野を中心
に国の内外、産学を問わず多くの方に利用されてきた。また現在もユーザー数は広がりつつある。
本講演ではそれらの経験の中から、HR-RBS 分析の現状と活用事例について報告する。